电子零件和半导体行业解决方案
Electronics & Semiconductor Solutions
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电子零件和半导体行业解决方案
Electronics & Semiconductor Solutions1 台仪器可高速连续测量,并判断合格与否。用于压电扬声器、水晶耳机、麦 克风、振动传感器、压力传感器、回转传感器、发电电路、驱动装置、喷墨打 印机等多种用途的压电元件的共振特性、静电容量测量。
要点
· 使用 1 台阻抗分析仪 IM3570 可连续测量频率特性(分析模式)和静电容量(LCR 模 式)。
· 利用通过面板保存功能保存的分析模式和 LCR 模式的测量条件进行连续测量。
· 可在 4Hz~5MHz 和广范围的频率范围下测量。 · 使用 LCR 模式的比较功能判断静电容量。
· 使用分析模式的峰值判断功能判断共振状态合格与否。
· 峰值判断是在摄制的判断区域内(上限、下限、左限、右限)判断是否有峰值。
· 使用分析模式的频率扫频功能,将每点每 1ms 的频率特性和高速测量的结果用图表显 示在画面中。
· 连续测量结果画面中,确认 LCR 模式的测量结果、LCR 模式、分析模式的判断结果。
· 使用连续测量结果画面的 GRAPH 键确认分析模式的测量结果。
使用仪器